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現(xiàn)場試驗(yàn) 為評價(jià)分析產(chǎn)品的可靠性，在使用現(xiàn)場進(jìn)行的試驗(yàn)稱為現(xiàn)場試驗(yàn)或現(xiàn)場使用試驗(yàn)。通過現(xiàn)場試驗(yàn)可以真實(shí)地反映產(chǎn)品在實(shí)際使用條件下的可靠性，也是驗(yàn)證人工模擬試驗(yàn)準(zhǔn)確性的基

機(jī)械、環(huán)境試驗(yàn) 概述 評價(jià)分析機(jī)械應(yīng)力、環(huán)境應(yīng)力對產(chǎn)品性能影響的試驗(yàn)稱為機(jī)械、環(huán)境試驗(yàn)。電子元器件等電子產(chǎn)品在儲存、運(yùn)輸和工作過程中可能遇到各種復(fù)雜的機(jī)械、環(huán)塊條件。通常電子元器件所遇到的主要機(jī)械、環(huán)境條件如下。 氣候條件：溫度、濕度、氣壓、

可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)的分類 通用的可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)有很多種，根據(jù)不同的分類方法,可以有多種不同的分類： ①按照施加應(yīng)力的種類不同，通用的可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)可分為溫度應(yīng)力試驗(yàn)、機(jī)械應(yīng)力試驗(yàn)、電應(yīng)力試驗(yàn)、濕度應(yīng)力試驗(yàn)、持殊應(yīng)力試驗(yàn)等； ②按照施加應(yīng)力方式的不同

本章將專門介紹這些基本可靠性試驗(yàn)。 基礎(chǔ)試驗(yàn)的重要性 電子元器件的常用可靠性試驗(yàn)。那些試驗(yàn)是為完成特定的目的而設(shè)置的，它由一系列通用的基本試驗(yàn)單元可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn)組成的，如第2章所述的例行試驗(yàn)是由振動(dòng)疲勞試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、離心力試驗(yàn)、卨低溫溫度試

電子元器件的可靠性基礎(chǔ)試驗(yàn) 概述 可靠性試驗(yàn)的范圍非常廣泛。從廣義上說，凡是與可靠性有關(guān)的試驗(yàn)都可以稱為可靠性試驗(yàn)。也可以說，為評價(jià)、分析電子元器件的可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為電子元器件的可靠性試驗(yàn)?？煽啃栽囼?yàn)的目的是考核電子元器件在運(yùn)輸、使用